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  • Datos técnicos:
    • Diámetro máximo de objeto: 50 mm (hasta 90° de pendiente).
    • Volumen de medición (D x H): 50 x 75 mm.
    • Precisión de forma (3σ): 30 nm (a 30° de pendiente).
    • Distancia de trabajo: 7.5 mm (evita colisiones).
    • Espesor mínimo de sustrato: 100 µm (transparente).
    • Peso máximo de carga: 2 kg.
    • Sensor: MWLI® con punto de 6 µm.
    • Sistema de referencia: 3 sensores MWLI en marco de Invar para estabilidad térmica.
    • Consumo de aire: 20 l/min a 8-10 bar.
  • Folleto: El LUPHOScan 50 SL es un perfilómetro óptico 3D sin contacto de ultra alta velocidad, diseñado específicamente para la medición de lentes pequeñas (como las de smartphones) y moldes de precisión.
  • Imagen 1: El LUPHOScan 50 SL es un perfilómetro óptico 3D sin contacto de ultra alta velocidad, diseñado específicamente para la medición de lentes pequeñas (como las de smartphones) y moldes de precisión.
  • Imagen 2: El LUPHOScan 50 SL es un perfilómetro óptico 3D sin contacto de ultra alta velocidad, diseñado específicamente para la medición de lentes pequeñas (como las de smartphones) y moldes de precisión.
  • Imagen 3: El LUPHOScan 50 SL es un perfilómetro óptico 3D sin contacto de ultra alta velocidad, diseñado específicamente para la medición de lentes pequeñas (como las de smartphones) y moldes de precisión.
  • Imagen 4: El LUPHOScan 50 SL es un perfilómetro óptico 3D sin contacto de ultra alta velocidad, diseñado específicamente para la medición de lentes pequeñas (como las de smartphones) y moldes de precisión.

El LUPHOScan 50 SL es un perfilómetro óptico 3D sin contacto de ultra alta velocidad, diseñado específicamente para la medición de lentes pequeñas (como las de smartphones) y moldes de precisión.

Basado en la interferometría de longitud de onda múltiple (MWLI®), permite escanear superficies ópticas complejas, incluidas asferas y "freeforms", con pendientes de hasta 90°. Su tecnología de escaneo espiral captura la forma 3D real de la lente completa en menos de 60 segundos.

Es capaz de medir características geométricas críticas como "interlocks" y diámetros de borde en relación con la superficie óptica.

Ventajas principales:

    • Precisión ultra alta: ≤ 30 nm PV (3σ).
    • Velocidad: Ciclo completo < 120 seg (Superficie + Geometría).
    • Sin contacto: Ideal para superficies sensibles o transparentes.
    • Estabilidad: Variación de potencia < ± 15 nm.